2024/05/17
資料の種別。 |
図書。
資料情報のコピー
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タイトル。 |
SiC/GaNパワー半導体の実装と信頼性評価技術(エスアイシー ジーエイエヌ パワー ハンドウタイ ノ ジッソウ ト シンライセイ ヒョウカ ギジュツ)。
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著者名等。 |
菅沼克昭∥編著(スガヌマ,カツアキ)。
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出版者。 |
日刊工業新聞社/東京。
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出版年。 |
2014.12。
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ページと大きさ。 |
247p/21cm。
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件名。 |
半導体。
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信頼性(工学)。
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分類。 |
NDC8 版:549.8。
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NDC9 版:549.8。
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ISBN。 |
978-4-526-07339-7。
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4-526-07339-3。
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価格。 |
3600円。
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タイトルコード。 |
1110076305。
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内容紹介。 |
SiCやGaNなどの次世代パワーデバイスの実用化が進むためには、ワイドギャップ半導体の信頼性が確立されることが重要。そのためには、鉛フリー・ダイアタッチ技術や新しい配線技術が必要。本書は、本技術を実装面で確立するためのこれらの技術及び信頼性の評価手法などを解説。。
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所蔵数。 |
館内でのみ利用可能な資料。 |
貸出可能な資料。 |
貸出中の資料。 |
予約数。 |
- 所蔵数
- 1 冊
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- 館内でのみ利用可能な資料
- 0 冊
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- 貸出可能な資料。
- 1 冊
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- 貸出中の資料
- 0 冊
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- 予約数
- 0 件
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番号。 |
資料番号。 |
所蔵館。 |
配架場所(配架案内)。 |
請求記号。 |
状態。 |
1。 |
- 資料番号:
- 1016223800。
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- 所蔵館:
- 福井県立図書館。
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- 配架場所:
- 自然39自然39(自然39の書架にあります。おわかりにならない時は、職員にお尋ねください。)。
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- 請求記号:
- 549.8/エスア。
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- 状態:
- 在架。
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このページのURL:http://www.library-archives.pref.fukui.lg.jp/wo/opc_srh/srh_detail/1110076305